提供半導體美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀，是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設備。可用于高等院校，線路板、五金電鍍、汽車制造、衛浴、連接器、鐘表、珠寶首飾領域，主要基于WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。采用全新數學計算方法,采用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。半導體美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀此儀器特別適合于小的鍍層測量，如端子，連接器，細小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛浴，等行業．也有杰出的表現．可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層．深圳金霖以最優的服務．膜厚儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標。