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產品品牌美國BOWMAN
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更新日期2013-09-27 11:37
品牌: |
美國BOWMAN |
所在地: |
廣東 深圳市 |
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供應半導體美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量。具有強大功能的X-射線XDVM-μ帶WinFTM V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分和材料分析,4個初級濾波器,4個電動準直器(0.1 0.2 0.3 1.5mm)。在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。半導體美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器,由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構,操作系統:Windows XP中文平臺 分析軟件包:Smart
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