QRM-MicroCT-Barpattern-NANO MicroCT測試模體詳細介紹：

多年來，已經提出了許多評估microCT系統性能的方法。通常，高分辨率的限制因素是焦點尺寸。這就是為什么許多測試僅依賴于從2D投影圖像確定光斑大小的原因。但是，3D中的真實空間分辨率取決于更多因素，而不僅僅是系統的機械精度。與持續時間相對較短的2D測試相比，所需的時間穩定性要求更為嚴格。最后，處理和重建算法對3D可獲得的空間分辨率也有重大影響。

MicroCT的3D空間分辨率測試用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom

評估3D空間分辨率的一個很好的工具是可用德國QRM GmbH獲得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。體模包含兩個放置在正交位置的硅芯片，包圍了1至10μm的多個分辨率測試圖案。在"使用QRM公司的MN099_3D空間分辨率 "中，模體的使用以SkyScan 1272臺式高分辨率微CT為例。
    
可選地，ASTM E 1695-95包含基于均勻圓柱狀測試對象（例如鋁銷）的掃描的測試方法。3D空間分辨率通過調制傳遞函數進行量化。另外，給出了確定對比靈敏度的指令。

來自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom掃描的重建切片，使用SkyScan 1276高分辨率體內微型CT進行了掃描，圖像像素尺寸為2.8μm。





QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測試技術參數：
柱狀部分：
直徑：5.2 mm
總長：19.1 mm
材料：致密塑料

芯片部分：
直徑：2.96 mm
總長：0.66 mm
材料：硅
芯片上圖樣尺寸范圍：1μm至10μm
圖樣深度：5μm至15μm
對比材料：硅/空氣

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測試卡芯片上有一個傾斜的邊緣(字母“L”字樣)以及一個西門子星卡圖樣(呈放射狀)。不同的圖樣結構均以這樣的方式排布于芯片上，從而使用戶僅通過一次曝光和測量就可以對整個芯片的中心以及外圍的空間分辨率做出評估。
作為我們流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的進一步發展，我們現在推出BarPattern-NANO！