半導體測試設備
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產品品牌深圳力鈦科
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更新日期2025-05-12 09:48
品牌： |
深圳力鈦科 |
所在地： |
廣東 |
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有效期至： |
長期有效 |
電流： |
0--6000A |
力鈦科LETAK功率器件靜態參數測試系統，集多種測量功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件 (如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導體 等)的靜態參數，具有高電壓和大電流特性、μQ級導通電阻精確測量、nA級漏電流測量能力等特點。支持高壓模式下功率器件結電容測試，如 輸入電容、輸 出電容 、 反向傳輸電容等。
被測對象及主要測試參數
被測對象 | 主要測試參數 |
分立器件 | Id-Vg，Id-Vd，Ic-Vc,二極管 |
雙極 | Ic-Vc、二極管、Gummel 圖、擊穿、hfe、電容 |
Coms | Id-Vg、Id-Vd、Vth、擊穿、電容、QSCV等 |
內存 | Vth、電容、耐久測試等。 |
MOSFET | Id-Vds,Rds-Id,Id-Vgs,電容 |
IGBT | Ic-Vce，Ic-Vge,Vce(sat),Vth Vge(off),擊穿 |
太陽能電池 | I-V、Cp-V、奈奎斯特圖、DLCP 等。 |
納米器件 | 電阻、Id-Vg、Id-Vd、Ic-Vc等。 |
GaN | FET 電流衰減、Id-Vds 電流衰減、二極管電流 |
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